X射线粉晶衍射仪分析磷化膜组成

X射线粉晶衍射仪分析磷化膜组成

利用X射线粉晶衍射仪对金属板材及其磷化膜进行全谱和分段扫描,在确定镀膜中存在Zn3(PO4)2·4H2O物相基础上,求出Zn3(PO4)2·4H2O的(020)晶面和(241)晶面衍射峰积分或强度计数,计算出该样品磷化膜的面比.

作 者： 迟广成 赵爱林 宋丽华 CHI Guang-cheng ZHAO Ai-lin SONG Li-hua   作者单位： 沈阳地质矿产研究所,辽宁,沈阳,110032  刊 名： 岩矿测试  ISTIC PKU 英文刊名： ROCK AND MINERAL ANALYSIS  年，卷(期)： 2007 26(2)  分类号： P575.5  关键词： X射线衍射法   磷化膜   面比  

【X射线粉晶衍射仪分析磷化膜组成】相关文章：

X射线粉晶衍射法在萤石矿药鉴定与质量评价中的应用04-26

粉晶X射线衍射在矿物岩石学研究中的应用04-26

衍射频谱法测光栅膜层厚度04-27

野外手提式X射线荧光分析仪通过验收04-27

反渗透膜经济寿命分析04-27

如何选择逻辑分析仪04-27

新型带锈磷化处理剂作用机理分析04-26

数字水准仪与全站仪精度评定的实验分析04-27

SMBR中不同膜组件形式的膜通量变化数学模型分析04-25

浅谈烟气分析仪的在线校准04-26