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Xe-N2O复合物的分子间势能面和振转光谱的理论研究
采用CCSD(T)方法研究了范德华分子体系Xe-N2O复合物的势能面和振转光谱性质.研究表明,该势能面有两个极小点,分别对应T构型和线性Xe-ONN构型.采用离散变量表象和Lanczos算法计算了体系的振转能级.计算结果表明,CCSD(T)势能面支持97个振动束缚态,并对能级进行了指认.计算得到的Xe-N2O转动跃迁频率与实验值吻合得很好.
谢代前(四川大学化学学院,成都,610064;南京大学理论与计算化学研究所,化学系,南京,210093)
刊 名： 化学学报 ISTIC SCI PKU 英文刊名： ACTA CHIMICA SINICA 年，卷(期)： 2004 62(1) 分类号： O6 关键词： Xe-N2O 势能面 振转能级 跃迁频率【Xe-N2O复合物的分子间势能面和振转光谱的理论研究】相关文章：
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