混沌电路电容参数的选择优化

混沌电路电容参数的选择优化

通过测试蔡氏电路中关键元件的电压特性关系,给出了混沌电路稳定出现八倍周期分岔现象时电路对元件性能的要求. 实验发现相移电容的电压稳定性是实验的关键.

作 者： 王宇清 杨文明 WANG Yu-qing YANG Wen-ming   作者单位： 上海交通大学,物理实验中心,上海,200240  刊 名： 物理实验  PKU 英文刊名： PHYSICS EXPERIMENTATION  年，卷(期)： 2009 29(2)  分类号： O415.5 TN710  关键词： 蔡氐电路   混沌   倍周期   电容-电压特性  

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