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金属掺杂多孔硅薄膜的制备及荧光光谱研究
用电化学方法对多孔硅薄膜进行了金属掺杂.用荧光分光光度计分析了样品的光致发光特性,结果表明,适量的金属掺杂增强了多孔硅的红光发射,氧化性金属掺杂还增强了多孔硅的蓝光发射,还原性金属掺杂却无此现象.红外吸收谱表明,金属掺杂多孔硅后Si-O-Si键振动增强.XRD谱表明,氧化性金属掺杂后多孔硅的无定形程度增强.对分析结果的解释为:红光增强是金属掺杂引入新的缺陷和硅、氧、金属间新的键态Si-Metal,Metal-O,Metal-Metal所致,而蓝光增强是无定形程度增强,应力增大和进一步氧化所致.
作 者: 孙小菁 马书懿 魏晋军 徐小丽 SUN Xiao-jing MA Shu-yi WEI Jin-jun XU Xiao-li 作者单位: 西北师范大学,物理与电子工程学院,甘肃,兰州,730070 刊 名: 西北师范大学学报(自然科学版) ISTIC PKU 英文刊名: JOURNAL OF NORTHWEST NORMAL UNIVERSITY(NATURAL SCIENCE) 年,卷(期): 2007 43(6) 分类号: O469 TB383 关键词: 金属掺杂多孔硅 电化学 光致发光 X射线衍射 红外吸收【金属掺杂多孔硅薄膜的制备及荧光光谱研究】相关文章:
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