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用干涉法实现光学合成孔径技术
分析了传统干涉成像方式的分辨率受限问题,提出一种干涉条纹场的合成来提高分辨率的方法,并以实验验证了上述方法的可行性.
作 者: 彭仁军 吴健 杨春平 陈长庚 作者单位: 电子科技大学应用物理研究所,成都,610054 刊 名: 光学学报 ISTIC EI PKU 英文刊名: ACTA OPTICA SINICA 年,卷(期): 2002 22(3) 分类号: O436.1 关键词: 干涉 合成孔径 错位【用干涉法实现光学合成孔径技术】相关文章:
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