AgOx薄膜的光开关特性和机理研究

AgOx薄膜的光开关特性和机理研究

用磁控溅射法制备了具有超分辨近场结构的系列薄膜,测量了非线性层AgOx的光开关特性及其结构随温度的变化,分析了AgOx的光开关特性与微结构之间的内在联系.

作 者： 熊曹水 熊永红 赵天鹏 罗震林 明海   作者单位： 熊曹水(中国科学技术大学,结构成分分析中心,安徽合肥230026;中国科学技术大学,物理系,安徽合肥230026)

熊永红(中国科学技术大学,天文与应用物理系,安徽合肥,230026)

赵天鹏,罗震林,明海(中国科学技术大学,物理系,安徽合肥230026) 

刊 名： 中国激光  ISTIC EI PKU 英文刊名： CHINESE JOURNAL OF LASERS  年，卷(期)： 2002 29(5)  分类号： O484.1  关键词： 磁控溅射   超分辨近场结构   AgOx薄膜   开关特性  

【AgOx薄膜的光开关特性和机理研究】相关文章：

准相位匹配PPLN波导全光开关特性研究04-29

GaAs与InP半导体光导开关特性实验研究04-29

掺Nd纳米ZnO薄膜特性研究04-28

不同氧分压下ZrO2薄膜特性研究04-26

多晶硅纳米薄膜电学特性的实验研究04-28

溶胶-凝胶VO2薄膜转换特性研究?04-29

氟掺杂的氧化锌薄膜的结构和光学特性04-27

N 掺杂ZnO薄膜的接触特性04-26

掺杂纳米硅薄膜的生长特性04-29

射频反应溅射制备的ZnO薄膜的结构和发光特性04-27