光子晶体缺陷模的偏振特性研究

光子晶体缺陷模的偏振特性研究

为了了解光波在一维光子晶体的传输特性,利用传输矩阵方法进行了数值模拟,并研究了缺陷层厚度对缺陷模偏振特性的影响.结果表明,入射角的变化对光子晶体的禁带及缺陷模影响较大,它们都随入射角的增大向高频(短波)方向移动,s偏振的禁带宽度逐渐增宽而p偏振的禁带宽度变化不明显,p偏振的缺陷模频移较s偏振的稍大.随着入射角的增大,s偏振的缺陷模越来越细、品质因子逐渐增大,而p偏振的缺陷模变化趋势则刚好相反.

作 者： 金铱 黄正逸 陈宪锋 唐丽 是度芳 JIN Yi HUANG Zheng-yi CHEN Xian-feng TANG Li SHI Du-fang   作者单位： 金铱,黄正逸,陈宪锋,唐丽,JIN Yi,HUANG Zheng-yi,CHEN Xian-feng,TANG Li(江苏工业学院,信息科学系,常州,213016)

是度芳,SHI Du-fang(江苏工业学院,信息科学系,常州,213016;华中科技大学,物理系,武汉,430074) 

刊 名： 激光技术  ISTIC PKU 英文刊名： LASER TECHNOLOGY  年，卷(期)： 2007 31(3)  分类号： O734  关键词： 物理光学   光子晶体   传输矩阵   缺陷模   偏振态  

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