直接热氧化制备氧化钛薄膜电极的研究Ⅰ. 制备、结构和电化学性质

直接热氧化制备氧化钛薄膜电极的研究Ⅰ. 制备、结构和电化学性质

采用原子力显微镜、 X光衍射仪、电化学阻抗谱等手段对热氧化制备氧化钛膜的结构和电化学性质进行了研究.结果表明,金属钛直接热氧化制备的薄膜为金红石型二氧化钛薄膜;随氧化温度升高和时间延长,薄膜结晶度逐渐增大;随氧化温度升高,二氧化钛平带电位向负方向移动;当温度大于600℃后,二氧化钛结晶致密,电子导电性减小.

作 者： 冷文华 张昭 成少安 张鉴清 曹楚南   作者单位： 浙江大学玉泉校区化学系,杭州,310027  刊 名： 化学物理学报  ISTIC SCI PKU 英文刊名： CHINESE JOURNAL OF CHEMICAL PHYSICS  年，卷(期)： 2001 14(6)  分类号： O641  关键词： 氧化钛   热氧化   电化学阻抗  

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