筒形机匣连接凸耳疲劳寿命及其影响因素

筒形机匣连接凸耳疲劳寿命及其影响因素

分析了筒形机匣连接凸耳疲劳寿命的主要影响因素.结果表明,5个试验件凸耳组织的再结晶程度有很大的差别,正是由于凸耳组织再结晶程度的分散性导致了其疲劳寿命的分散性.进一步的分析表明,凸耳组织再结晶程度的分散性是由于模锻时材料原始晶粒大小和形变量不同造成的.此外,凸耳孔壁表面的加工缺陷也是降低凸耳疲劳寿命的一个重要因素.

作 者： 谢明立 习年生 赵爱国 XIE Ming-li XI Nian-sheng ZHAO Ai-guo   作者单位： 北京航空材料研究院,北京,100095  刊 名： 航空材料学报  ISTIC EI PKU 英文刊名： JOURNAL OF AERONAUTICAL MATERIALS  年，卷(期)： 1999 19(1)  分类号： V275.1  关键词： 凸耳   疲劳断裂   再结晶   晶粒度  

【筒形机匣连接凸耳疲劳寿命及其影响因素】相关文章：

笔记本的电源一直连接，会影响电池的使用寿命吗？10-14

影响价格的因素 教案04-25

《影响价格的因素》教案04-25

环境因素对性格的影响05-16

影响衰老的因素是什么12-17

影响农村稳定的因素及对策心得12-15

影响学习效率的三大因素11-14

影响化学反应速率的因素教案04-24

革兰氏染色结果的影响因素及原因分析10-10

影响问题解决的因素探析10-18